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サービスservice

LSIテストソリューション

LSIテストソリューション

長年培ってきたテスト技術でLSIのテスト全般の作業を受託します。
業界最大規模のテストエンジニアが在籍しており、テストに関するお客様のあらゆるニーズにお応えします。

テストプログラム開発

テスト仕様設計、テストプログラム開発を行っています。 各種LSIテスタに対応したテストプログラム開発が可能です。
国内外の主要テスターをはじめ多くのテスターに精通しています。さまざまなLSIテスタに対応したテストプログラムやテストパタン設計を短納期で開発しています。
また、テストタイムの最適化やパラレル化、マルチサイト測定等、量産時のテストコスト削減を意識したプログラム開発をご提案しています。
プログラム開発だけでなく、プローブカードやテストボード等の治工具作成、量産立ち上げも可能です。
自社保有のクリーンルーム/テスタを使用しての小規模量産テストも可能です。テスト時間短縮や低歩留テストの原因解析・改善も対応いたします。

テストプログラム開発
テストプログラム/パターン変換

多様なLSIテスタの機種変更に伴うプログラム/パターンを変換するサービスです。

  • テスタ新機種導入
  • 生産マップの見直し
  • 海外テストハウスへのアウトソーシング
  • 変換前後のコリレーション
  • 量産立ち上げ

様々なお客様のニーズにお応えします。

テストプログラム/パターン変換
具体例
LSIテスタメーカ 変換元テスタ 変換先テスタ
ADVANTEST T33xx T66/65xx/TS6000H/AL9737/J750(EX)/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000
T66/65xx TS6000H/J750(EX)/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000
T2000 U-Flex/V93000
T7721 T65xx/T2000/U-Flex/V93000
T7321 T65xx/T2000/U-Flex/V93000
V93000 T2000/U-Flex
YOKOGAWA TS6000H T66/65xx/J750(EX)/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000
TS1000 TS6000/TS6800
AL9737 T66/65xx/TS6000H/J750(EX)/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000
DIC90xx TS6000H/J750(EX)/T65xx
DIC80xx TS6000H/J750(EX)/T65xx
TERADYNE J97X T2000/U-Flex/V93000
J750(EX) T66/65xx/TS6000H/Diamond(D10)/T2000/U-Flex/V93000
U-Flex T2000/V93000
LTX-Credence D10 T66/65xx/J750(EX)/T2000

上記以外の機種の場合でもお気軽にご相談下さい。

テスト、評価、選別
テスト、評価、選別

LSIの特性評価、実機評価、量産選別を受託で対応いたします。
当社保有のクリーンルーム/テスタを使用しての小規模量産テストも可能です。
ウェハテスト、ファイナルテストの両方が可能です。